IEC 60749-3-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分:外观检验

作者:标准资料网 时间:2024-04-29 03:29:24  浏览:8339   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part3:Externalvisualexamination
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分:外观检验
【标准号】:IEC60749-3-2002
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2002-04
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:组件;耐力;尺寸;易燃性;环境试验;环境试验;大气压;环境;集成电路;温度;电子工程;气候;电子设备及元件;元部件;密封性;电学测量;外观检查(试验);半导体;热学;机械试验;试验;电气工程;气候试验;温度变化;半导体器件;潮气
【英文主题词】:Atmosphericpressure;Changesoftemperature;Climate;Climatictests;Components;Dimensions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environment;Environmentaltesting;Environmentaltests;Flammability;Heat;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Moisture;Resistance;Semiconductordevices;Semiconductors;Temperature;Testing;Tightness;Visualinspection(testing)
【摘要】:ThepurposeofthispartofIEC60749istoverifythatthematerials,design,construction,markings,andworkmanshipofasemiconductordeviceareinaccordancewiththeapplicableprocurementdocument.Externalvisualinspectionisanon-destructivetestandapplicableforallpackagetypes.Thetestisusefulforqualification,processmonitor,orlotacceptance,orboth.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:7P.;A4
【正文语种】:英语